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高濃度納米粒度儀zeta電位分析儀

簡要描述:高濃度納米粒度儀zeta電位分析儀綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。

  • 產(chǎn)品型號:ZetaAPS型
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-26
  • 訪  問  量:2500

詳細介紹

品牌其他品牌價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進口應用領域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,制藥
  高濃度納米粒度儀zeta電位分析儀
 
  典型應用:
 
  綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。
 
  主要特點:
 
  1)能分析多種分散物的混合體;
 
  2)無需依賴Double Layer模式,準確地判定等電點;
 
  3)可適用于高導電(highly conducting)體系;
 
  4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
 
  5)可準確測量無水體系;
 
  6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進行電位測量;
 
  7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;
 
  8)具有自動電位滴定功能;
 
  優(yōu)于光學方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)被測樣品無需稀釋;
 
  2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
 
  3)不需定標;
 
  4)能分析多種分散物的混合體;
 
  5)高精度;
 
  6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
 
  高濃度納米粒度儀zeta電位分析儀
 
  優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)無需定標;
 
  2)能測更寬的粒徑范圍;
 
  3)無需依賴Double Layer模式
 
  4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
 
  5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
 
  6)可適用于無水體系;
 
  7)可適用于高導電(highly conducting)體系;
 
  優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)無需稀釋,固合量高達60%;
 
  2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
 
  3)高精度(±0.1mv);
 
  4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
 
  5)electrosmotic flow不影響測量;
 
  6)對流(convection)不影響測量;
 
  7)可準確測量無水體系;
 
  技術(shù)參數(shù):
 
  1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;
 
  2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減;
 
  3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
 
  4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
 
  5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數(shù));
 
  6)樣品體積:30-230ml;
 
  7)PH范圍:0~14;
 
  8)電導率范圍:0~10 s/m
 

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