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  • zeta-APS美國(guó)MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀
    zeta-APS美國(guó)MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2023-03-17

    型號(hào):zeta-APS

    瀏覽量:1433

    美國(guó)MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測(cè)量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備,從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性,同時(shí)節(jié)省了時(shí)間; 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì); 3)寬粒徑測(cè)量范圍:從5nm到1000um; 4)自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡(jiǎn)單快速的等電位(IEP)測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定; 5)由于機(jī)載樣品混合和/或測(cè)量時(shí)的泵送能力,沒有粒子沉降的不利影響; 6)Zet
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  • APS100型固體表面Zeta電位分析儀
    APS100型固體表面Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2021-11-03

    型號(hào):APS100型

    瀏覽量:2716

    固體表面Zeta電位分析儀,可測(cè)量縱向粘度,60%固體,PH值,電導(dǎo)率,溫度,聲衰減和聲速度譜;
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  • APS100型多孔材料表面Zeta電位分析儀
    APS100型多孔材料表面Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2021-12-01

    型號(hào):APS100型

    瀏覽量:1736

    多孔材料表面Zeta電位分析儀,APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù),不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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  • 電聲法粒度儀Zeta電位分析儀
    電聲法粒度儀Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2021-09-08

    型號(hào):

    瀏覽量:2738

    電聲法粒度儀Zeta電位分析儀 可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系,分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒;
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  • 納米粒度儀分析儀DLS 90
    納米粒度儀分析儀DLS 90

    更新時(shí)間:2021-08-30

    型號(hào):

    瀏覽量:1850

    納米粒度儀分析儀DLS 90,采用集成的光子相關(guān)器?;贔PGA的光子相關(guān)器,集成雙通道光子計(jì)數(shù)器,確保光子無(wú)遺漏;1000個(gè)物理通道,提供充足的測(cè)量數(shù)據(jù);小100ns采樣時(shí)間,確保z低1nm顆粒的測(cè)量;芯片內(nèi)模塊集成設(shè)計(jì),保證高速、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)處理流程。
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  • 美國(guó)MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀
    美國(guó)MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2021-08-11

    型號(hào):

    瀏覽量:2070

    美國(guó)MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀 可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系,分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒;
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  • 美國(guó)MAS超聲粒度儀電位分析儀
    美國(guó)MAS超聲粒度儀電位分析儀

    更新時(shí)間:2021-08-11

    型號(hào):

    瀏覽量:1736

    美國(guó)MAS超聲粒度儀電位分析儀 自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡(jiǎn)單快速的等電位(IEP)測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定;
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  • 美國(guó)MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀
    美國(guó)MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀

    更新時(shí)間:2021-07-27

    型號(hào):

    瀏覽量:1711

    美國(guó)MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀 自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡(jiǎn)單快速的等電位(IEP)測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定;
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