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常用的粒度測(cè)量方法

更新時(shí)間:2024-01-22      點(diǎn)擊次數(shù):741
納米粒度儀原理簡(jiǎn)介:
APS從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù),不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
當(dāng)聲音穿越泥漿或膠體時(shí),是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1- 100MHz的頻率范圍內(nèi)非常準(zhǔn)確地測(cè)量聲音衰減。因?yàn)槁曇舸┻^(guò)所有的物質(zhì)媒介,APS聲音衰減的測(cè)量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進(jìn)行。粒子沉降并不是一個(gè)問(wèn)題,因?yàn)樵跍y(cè)量時(shí)樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢(shì)水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。
APS取樣分析是快速和容易的,無(wú)需稀釋樣品。稀釋樣品費(fèi)時(shí),容易出錯(cuò),并可能改變樣品的實(shí)際PSD。簡(jiǎn)單地倒,或者連續(xù)泵送樣品進(jìn)入到APS的樣品室,APS的直觀的軟件在幾分鐘內(nèi)做玩余下的工作。
計(jì)算詳細(xì)PSD數(shù)據(jù)的技術(shù),不需要假設(shè)PSD形狀。其他類型的儀器,例如光散射,意味著軟件或操作者假設(shè)或猜測(cè)PSD是單峰、雙峰、對(duì)數(shù)正態(tài)或高斯分布的。這種假設(shè)可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可靠。
專門的APS硬件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化了操作,同時(shí)減少維護(hù)。這個(gè)設(shè)計(jì)適合研發(fā)以及重復(fù)質(zhì)量控制測(cè)量。APS也適合過(guò)程在線操作。
常用的粒度測(cè)量方法:
(1)篩分法
(2)沉降法(重力沉降法、離心沉降法)
(3)電阻法(庫(kù)爾特顆粒計(jì)數(shù)器)
(4)顯微鏡(圖像)法
(5)電鏡法
(6)超聲波法
(7)透氣法
(8)激光衍射法
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