光譜分析儀以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強(qiáng)度的裝置。其構(gòu)造由一個入射狹縫,一個色散系統(tǒng),一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測定。分為單色儀和多色儀兩種。是將成分復(fù)雜的復(fù)合光分解為光譜線并進(jìn)行測量和計算的科學(xué)儀器,被廣泛應(yīng)用于輻射度學(xué)分析、顏色測量、化學(xué)成份分析等領(lǐng)域,在冶金、地質(zhì)、水文、醫(yī)藥、石油化工、環(huán)境保護(hù)、宇宙探索等行業(yè)發(fā)揮著重要作用。在照明行業(yè),通常使用光譜儀來測量光源的光色參數(shù)。
產(chǎn)品集信息采集,處理,存儲諸功能于一體。由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理,測量工作,使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件,提高了工作效率:使用OMA分析光譜,測盆準(zhǔn)確迅速,方便,且靈敏度高,響應(yīng)時間快,光譜分辨率高,測量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī),繪圖儀輸出.目前,它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量,分析及研究工作中,特別適應(yīng)于對微弱信號,瞬變信號的檢測。
光譜分析儀優(yōu)點(diǎn):
精:采用先進(jìn)的全自平場凹平光柵、精密光學(xué)系統(tǒng)和電子快門控制技術(shù)測量精度更高
快:采用陣列探測器替代傳統(tǒng)機(jī)械掃描系統(tǒng),在極短的時間內(nèi)完成整個光譜測量
靈:不含機(jī)械掃描裝置,外型精巧美觀,無機(jī)械磨損,使用壽命長,可靠性高
光譜儀可測定包括痕量碳(C),磷(P),硫(S)元素,適用于多種金屬基體,如:鐵基,鋁基,銅基,鎳基,鉻基,鈦 基,鎂基,鋅基,錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍,可根據(jù)客戶需要選擇通道元素;光譜分析儀可同時實(shí)現(xiàn)毫秒級的測量速度和傳統(tǒng)機(jī)械式光譜儀的測量精度,用于LED及LED燈具等各類光源的光譜、顏色及光通量等光色參數(shù)的高精度測量。